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    (1)图甲为一游标卡尺的结构示意图.当测量一钢笔帽的内径时.应该用游标卡尺的 进行测量,示数如图乙所示.该钢笔帽的内径为 mm. (2)霍尔效应是电磁基本现象之一.近期我国科学家在该领域的实验研究上取得了突破性进展.如图丙所示.在一矩形半导体薄片的P.Q间通入电流I.同时外加与薄片垂直的磁场B.在M.N间出现电压UH.这个现象称为霍尔效应.UH称为霍尔电压.且满足.式中d为薄片的厚度.k为霍尔系数.某同学通过实验来测定该半导体薄片的霍尔系数. ①若该半导体材料是空穴导电.电流与磁场方向如图丙所示.该同学用电压表测量UH时.应将电压表的“+ 接线柱与 端通过导线相连. ②已知薄片厚度d=0.40mm.该同学保持磁感应强度B=0.10T不变.改变电流I的大小.测量相应的UH值.记录数据如下表所示. 根据表中数据在给定区域内画出UH—I图线.利用图线求出该材料的霍尔系数为 . ③该同学查阅资料发现.使半导体薄片中的电流反向再次测量.取两个方向测量的平均值.可以减小霍尔系数的测量误差.为此该同学设计了如图丁所示的测量电路.S1.S2均为单刀双掷开关.虚线框内为半导体薄片.为使电流自Q端流入.P端流出.应将S1掷向 , S2掷向 . 为了保证测量安全.该同学改进了测量电路.将一合适的定值电阻串联在电路中.在保持其它连接不变的情况下.该定值电阻应串联在相邻器件 和 之间. 【查看更多】

     

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