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    如图所示是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图，设法使某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中，使它受到电子束轰击，失去一个电子变成为正一价的分子离子，分子离子从狭缝S1以很小的速度进入电压为U的加速电压区(初速不计)，加速后，再通过狭缝S2，S3射入磁感应强度为B的匀强磁场，方向垂直于磁场区的界面PQ．最后，分子离子打到感光片上，形成垂直于纸面且平行于狭缝S3的细线，若测得细线到狭缝S3的距离为d．

    (1)导出分子离子质量的表达式；

    (2)根据分子离子的质量数M可以推测有机化合物的结构简式，若某种含C，H和卤素的化合物的M为48，写出其结构简式；

    (3)现有某种含C，H和卤素的化合物，测得两个M值，分别为64和66．试说明原因，并写出它们的结构简式．

    在推测有机化合物的结构时，可能用到的含量较多的同位素的质量数如下表：

    答案：
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    图所示是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图，设法使某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中，使它受到电子束轰击，失去一个电子变成为正一价的分子离子，分子离子从狭缝S1以很小的速度进入电压为U的加速电场区（初速不计），加速后，再通过狭缝S2、S3射入磁感应强度为B的匀强磁场，方向垂直于磁场区的界面PQ．最后，分子离子打到感光片上，形成垂直于纸面且平行于狭缝S2的细线，若测得细线到狭缝S3的距离为d．

     

    　　（1）导出分子、离子的质量m的表达式．

     

    　　（2）根据分子离子的质量数M可以推测有机化合物的结构简式，若某种含C、H和卤素的化合物的M为48，写出其结构简式．

     

    　　（3）现有某种含C、H和卤素的化合物，测得两个M值，分别为64和66，试说明原因，并写出它们的结构简式．在推测有机化合物的结构时，可能用到的含量较多的同位素的质量数如下表：

    元素

    H

    C

    F

    C1

    Br

    含量较多的同

    位素的质量数

    1

    12

    19

    35，37

    79，81

     

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    科目：高中物理 来源：新课标高三物理第二轮复习讲稿　人教版 人教版 题型：038

    如图所示是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图．设法使某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中，使它受到电子束轰击，失去一个电子变成为正一价的分子离子，分子离子从狭缝S1以很小的速度进入电压为U的加速电场区(初速不计)，加速后，再通过狭缝S2、S3射入磁感应强度为B的匀强磁场，方向垂直于磁场区的界面PQ，最后，分子离子打到感光片上，形成垂直于纸面且平行于狭缝S3的细线，若测得细线到狭缝S3的距离为d．导出分子离子的质量m的表达式．

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    科目：高中物理 来源：江苏南通地区2009高考物理第二轮复习教学案人教版 人教版 题型：038

    如图所示是测量带电粒子质量的仪器——质谱仪的工作原理示意图．设法使某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中，使它受到电子束轰击，失去一个电子成为正一价的离子．离子从狭缝S1以很小的速度(即初速度不计)进入电压为U的加速电场区加速后，再通过狭缝S2、S3射入磁感应强度为B的匀强磁场(方向垂直于磁场区的界面PQ)中．最后，离子打到感光片上，形成垂直于纸面且平行于狭缝S3的细线．若测得细线到狭缝S3的距离为d．请导出离子的质量m的表达式．

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    科目：高中物理 来源： 题型：

    如图所示是测量带电粒子质量的仪器工作原理示意图。设法是某有机化合物的气态分子导入图中所示的容器A中，使它受到电子束轰击，失去一个电子变成正一价的分子离子。分子离子从狭缝s1以很小的速度进入电压为U的加速电场区（初速不计），加速后，再通过狭缝s2、s3射入磁感强度为B的匀强磁场，方向垂直于磁场区的界面PQ。最后，分子离子打到感光片上，形成垂直于纸面而且平行于狭缝s3的细线。若测得细线到狭缝s3的距离为d
    导出分子离子的质量m的表达式。
              

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